固體表面Zeta電位分析儀是基于電泳光散射原理測(cè)量納米顆粒材料Zeta電位的。電泳光散射技術(shù)是一種用于測(cè)量分散顆粒或溶液中分子電泳淌度的技術(shù)。
 

　　該淌度通常轉(zhuǎn)換為Zeta電位，以便在不同實(shí)驗(yàn)條件下對(duì)材料進(jìn)行對(duì)比。其基本的物理原理為電泳原理。一種分散樣品被放入含有兩個(gè)電極的樣品池中。使用電極施加電場(chǎng)，具有凈電荷的顆?；蚍肿樱蚋鼑?yán)格地說(shuō)，凈zeta電位的物質(zhì)將以一種與其zeta電位相關(guān)的速度向相反極性電極移動(dòng)。
 

　　固體表面Zeta電位分析儀的測(cè)量原理：
 

　　在電化學(xué)雙電流層的模型中，電荷分布形成固定層與可移動(dòng)層。滑動(dòng)層將這兩層彼此分離。Zeta電位為在滑動(dòng)層上固體表面與液相之間電勢(shì)的衰減。
 

　　電解質(zhì)流動(dòng)的外部力平行應(yīng)用于固體與液體界面導(dǎo)致固定層與可移動(dòng)層之間相對(duì)運(yùn)動(dòng)與電荷分離，由此得出實(shí)驗(yàn)的Zeta電位。流動(dòng)電勢(shì)的大小由液相的流動(dòng)壓差P決定。
 

　　固體表面Zeta電位分析儀即可定義為固體表面的固定層電荷與離子移動(dòng)層之間的電勢(shì)，相應(yīng)的流動(dòng)電勢(shì)系數(shù)為dU/dP。
 

　　固體表面特性，粘性，介電常數(shù)，電解質(zhì)電導(dǎo)率K等都影響Zeta電位的大小。得出Zeta電位值時(shí)，需要說(shuō)明電解質(zhì)溶液的類型，濃度，pH值。
 

　　稀釋的電解質(zhì)循環(huán)流經(jīng)裝有樣品的測(cè)量池，由此產(chǎn)生一個(gè)壓差，其電荷在電化學(xué)雙電層中相對(duì)運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生并增加流動(dòng)電壓，這個(gè)流動(dòng)電壓/流動(dòng)電流由置于樣品兩邊的電極檢測(cè)?？赏瑫r(shí)測(cè)量出電解質(zhì)的電導(dǎo)率，溫度及pH值。
 

　　注意事項(xiàng)：
 

　　1、若要進(jìn)行酸堿滴定測(cè)等電點(diǎn)或測(cè)PH值，則每次實(shí)驗(yàn)前須校正PH探針;若要測(cè)試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次;
 

　　2、每次更換樣品物需清洗主探頭、PH探針以及容器，要擦干，以免前面殘留粉末影向?qū)嶒?yàn)結(jié)果;
 

　　3、實(shí)驗(yàn)結(jié)東后要清洗主探頭、PH琛針和容器，并將PH探針?lè)呕厮嵝詻_液中;
 

　　4、若進(jìn)行酸碔滴定則每次關(guān)機(jī)前需將酸堿滴定管凊洗3～5次。